型号：MultiMode 8

生产厂家：美国 Veeco公司

性能指标：

 1. 常规测量模式：接触模式（Contact Mode）、轻敲模式（Tapping Mode ）、扭转共振模式（TR-Mode）抬起模式（Lift Mode）、横向力显微镜（Lateral Force Microscopy，LFM）、磁力显微镜（Magnetic Force Microscopy，MFM）、静电力显微镜（Electric Force Microscopy，EFM）、表面电势测量（Surface Potential Detection）、力曲线测量（Force Curve Detection）；

2. 扩展测量模式：液体环境工作模式；

3. 扫描范围：125μm×125μm×5μm；

4. 样品尺寸：10mm×10mm×2mm；

5. 噪声水平：tapping模式空气中噪音小于0.03nm。

主要应用：

MultiMode 8 系统主要用于表征纳米材料的形貌，确定颗粒的尺寸；描述磁性分子或颗粒的磁力分布；液晶材料的电性分布及外场的影响；有机、无机、高分子材料的形貌分析、力学性能分析及相分析；电、磁记录材料响应变化的原位观测等。

相关参考文献：

    1. A. E. Pelling, S. Sehati, E. B. Gralla, et al. Science, 2004, 305, 1147-1150.

     2. E. Dague, D. Alsteens, J. Latge, et al. Nano Lett., 2007, 7, 3026-3030.

仪器管理员：王文海

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